DIC系統(日本SEIKA品牌)數字圖像相關法(DIC)是一種非接觸式的高精度位移、用于全場形狀、變形、運動測量的方法,也是現代光測量力學領域內最有應用前景的測量方法。其應用研究方向,正朝著從常規材料到新型材料的測量,從彈性問題測量到強塑性問題的測量,從常溫到高溫的測量,從宏觀測量到微觀測量的趨勢發展。DIC方法在上世紀80年代初被提出,經過30多年眾多學者的研究,技術上已經非常成熟。這種方法又被稱為數字散斑相關法,它直接處理的對象是具有一定灰度分布的數字圖像(散斑圖),通過對比材料或者結構表面在變形前后的散斑圖運用相關算法得到 獲取詳細資料 |
Seika公司(中文名:西華數碼影像公司)作為一家專業從事智能影像分析系統設計的高科技公司,在DIC系統的研發設計上已有多年經驗,并被全球眾多的科研單位及院校所認可(中國獨家代理商:武漢中創聯達科技有限公司)。我們可以為您提供運用數字圖像關聯法開發的應變解析軟件系統。通過比較分析樣本變形前后的圖像,可以對變形和彎曲的量、方向、分布等進行解析。通過使用本系統,能夠以非接觸的方式獲取物體變形彎曲的數據并將其分布可視化。對于高速測量、微米單位測量等特殊環境下的測量需要,我們可以在包括軟件、相機、照明、專用光學儀器等各個方面提供綜合性的解決方案。
產品特點:
●能夠測量坐標,位移,速度,應變,形狀和變形
●能夠顯示矢量圖,輪廓圖
●支持的圖像格式:FIFF等
●易于使用的直觀界面
●進程樹結構
●豐富的后處理功能
●支持各種高速相機和高分辨率相機
●系統支持日/英雙語
●對應各種情況(離線/在線分析,3D分析等)
應用:
1.張力、壓縮、扭轉測試 2.破壞、沖擊、掉落測試 3.熱膨脹、熱變形 4.顯微鏡下的微測試
圖例如下: